視覺檢測(cè)方案
VISUAL INSPECTION SOLUTION
SN-VR-CT2系列
【概要描述】<h1>編帶檢測(cè)設(shè)備</h1>
<span>檢測(cè)項(xiàng)目：印字、有無料、側(cè)翻料、崩缺、針腳長(zhǎng)短、編帶封口不良等缺陷</span>
【概要描述】
<h1>編帶檢測(cè)設(shè)備</h1>
<span>檢測(cè)項(xiàng)目：印字、有無料、側(cè)翻料、崩缺、針腳長(zhǎng)短、編帶封口不良等缺陷</span>
詳情
SN-VR-C12系列
應(yīng)用于晶片、電感、晶振、芯片等產(chǎn)品
檢測(cè)項(xiàng)目：暗裂、崩缺、臟污、缺角、水印、變形、外形（長(zhǎng)寬高）等缺陷
上一個(gè):
SN-VR-C12系列
下一個(gè):
無
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